HIL_Test_Systems_Stage_Element_5906x4429.jpg

HILテスト

ハードウェア・イン・ザ・ループ(HIL)試験は、複雑な機能を持つエレクトロニクスを搭載した最新システムの開発に不可欠です。当社のカスタマイズされた試験システムソリューションは、お客様に競争上の優位性をもたらします。どの業界におられましても、単体の組み込みシステムからネットワーク、テストベンチに至るまで、信頼性が高く精密なテストをご提供いたします。

当社の使命は、お客様のニーズに完璧に合致した、ターンキー方式のカスタマイズされたHILテストソリューションをご提供することです。コンポーネントのテストから複雑なシステムシミュレーションに至るまで、開発のあらゆる段階においてお客様を全面的にサポートいたします。高性能なソフトウェア、堅牢なハードウェア、そして世界トップクラスのエンジニアリングサービスにより、お客様の開発およびテストプロジェクトが確実に成功裏に完了するようお手伝いいたします。

メリット

最高速度

  • テストを一度作成すれば、開発のあらゆる段階(MIL、SIL、HIL)でどこでも再利用可能です
  • 迅速かつ効率的、そして実践的なスタートを切るための個別ブートキャンプ・ワークショップ 
  • 問題を迅速に解決するための、世界規模のサービスとサポート

 

最小限のコスト

  • 複数のアプリケーション分野に対応したターンキーソリューション – コスト削減とリスクの最小化を実現
  • 変化するプロジェクト要件に対応するための豊富なI/Oオプションと簡単なソフトウェア設定により、投資の安全性と将来性を確保します 

最大限の開放性

  • 拡張性が極めて高く、モジュール式のラックコンセプトを採用しており、幅広いオプションにより、さまざまなテスト要件に柔軟に対応可能です
  • オープンかつ標準化されたインターフェースにより、サードパーティ製品や異種混在のテスト環境とのシームレスな統合を実現 

 

 

複雑さを最小化する

  • 直感的なプラグ・アンド・プレイ設計と、多様な操作コンセプト(対話型/自動型、リモート/オンサイト)により、手間のかからない操作を実現
  • 設計から試運転まで、工場受入試験や現場試験を含む包括的なエンジニアリングサービス

HILテストシステムソリューション

Vector社のHILテストシステムソリューションは、複雑なシステムの包括的かつ高度な機能開発および検証のために特別に設計された、高性能なリアルタイムプラットフォームに基づいています。 自動車産業(ECU)、航空宇宙(LRU)、産業オートメーション(PLC)、その他のハイテク分野を問わず、組み込みシステムが使用されているあらゆる場面で、当社のソリューションが使用されています。これは、お客様のプロジェクト固有の要件にきめ細かく対応できるハードウェアとソフトウェアの組み合わせによって実現されています。

当社のHILテストプラットフォームにより、開発の初期段階から多数のテストを効率的に実施することが可能です。これにより、開発プロセスが加速され、コストが削減され、製品の品質が向上します。

Vector_HIL_Test_Solution_1920x1080_EN.svg

● HILハードウェア

当社のHILテストプラットフォームは、お客様の要件に合わせて拡張可能です。モジュール式設計を採用しているため、I/O、バス、ネットワークインターフェイスなどの追加コンポーネントや機能を柔軟に拡張することができます。これにより、既存の投資をコスト効率よく再利用できるほか、システムの将来性もしっかりと確保されます。

● HILソフトウェア

vTESTstudio、CANoe、DYNA4 などの強力なソフトウェアツールは、HIL テストの作成、自動化、解析を行うための包括的なツールセットを提供します。物理モデルの統合により、現実的なシミュレーションが可能となり、詳細なレポートや要件との比較を通じて、最大限の透明性が確保されます。

モジュラー式ラックシステム

当社のHILテストシステムは、拡張性に優れ、モジュール式のラックコンセプトに基づいており、お客様のあらゆる要件に対応できる柔軟性を備えています。
 

● ハードウェアの統合

I/Oモジュール、ネットワークインターフェイス、およびリアルタイム実行プラットフォームの選択には、ベクターの幅広い製品ポートフォリオをご利用いただけます。SUT用電源、レガシーテストシステム、およびオリジナル負荷などのカスタムハードウェアといった追加コンポーネントは、サポートされている豊富なインターフェースと、サードパーティ製ハードウェア向けの多数のドライバライブラリを通じて統合されます。
 

● 構成

中核となるシミュレーションおよびテストツールであるCANoeを使用すれば、アプリケーションに必要なすべてのI/Oモジュールやネットワークモジュールを簡単に設定し、シミュレーションモデルを統合することができます。これにより、システムをニーズにぴったり合わせ、特定のタスクに合わせて最適化することが可能です。

Vector_Modular_HIL_Rack_System_1920x1920_EN.png

筐体とフォームファクター

Gallery01_Full-Size_Rack_Vertical_1920x1080_EN.jpg
最大6台の被試験デバイス(DUT)の耐久テストに対応した、フルサイズの縦型ラック(38U)。
Gallery02_Full-Size_Rack_Horizontal_1920x1080_EN.jpg
システム/統合テストを行うための、特殊フォーマットのフルサイズ横型ラック(3×16U)です。
Gallery03_Mid-Size_Rack_1920x1080_EN.jpg
包括的なI/Oテスト用の中型ラック(9U)。
Gallery04_Large_Desktop_Systeme1920x1080_EN.jpg
さまざまな複雑さや機能を備えたテストに対応する大型デスクトップシステム(4U)です。
Gallery05_Compact_Desktop_System_1920x1080_EN.jpg
開発の初期段階におけるボードレベルのI/Oテスト用のコンパクトなデスクトップシステムです。

カスタマイズされたHILテストシステム

標準化されたテストシステムでは、現代の組み込みシステムが抱える多様かつ複雑な要件を満たすには不十分な場合が多くあります。ベクターのカスタマイズされたHILテストシステムなら、お客様のニーズにきめ細かく対応した包括的なソリューションをご提供いたします。当社のカスタマープロジェクトチームが、喜んでご支援させていただきます。

  • 顧客要件の分析は、このプロセスの第一歩であり、プロジェクトの成功に向けた基盤を築くものです。お客様と協力して、お客様のHIL試験システムに対する具体的な要件を決定いたします。

  • 仕様策定フェーズでは、技術的に妥当な計画を作成いたします。お客様のSUTに適したI/Oモジュールやネットワークモジュール、その他のコンポーネント(PC、電源、負荷装置など)を選択いたします。

  • 開発フェーズは、HILプロジェクトの実際の作業段階の始まりであり、計画された活動が実施されます。用途や環境に応じて、各種接続用のフロントパネル、冷却、安全対策、操作ユニット、収納オプションなどを備えたラックを個別に設計いたします。

  • アセンブリは、ベクターのHILテストシステム製造工場で行われます。お客様のテストシステムは、ご相談の際に作成されたプロジェクト提案書に基づいてアセンブリされます。リクエストに応じて、各テストシステムを小ロットで製造し、世界中へお届けすることが可能です。

  • 完成および納品後、お客様の実験室にて、HILテストシステムの試運転を開始いたします。各テストシステムは、移動式受入試験ボックスを使用して自動配線試験を行います。このプロセスにより、例えば実験室内の移動後でも、シームレスな再試運転が可能となります。

Process_Custom_HIL_Test_Bench_1920x2500_EN.svg

世界規模のサービスとサポート

お客様のご要望に合わせたHILテストシステムのシステム。必要な場所ならどこへでも。

お客様のご要望に合わせたHILテストシステムのシステム。必要な場所ならどこへでも。